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MiniTest2500
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MiniTest4500
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可存储的读数总数
*大批组数量
具有独立校准值的应用程序存储数量
具有相同校准值的批组每个应用程序存储的批组数量
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2000000
1
-
-
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2000000
超过9500
99
99
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统计功能(每批组)
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kvar, n, max.,
min.
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kvar, n, max.,
min., CP, CPK
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校准
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-
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如果无基材使用,则通过涂层进行校准(CTC)
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补偿功能
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-
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用于从读数中加/减一个恒定值
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极限设置(用户自定义)
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-
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超出限制时的光信号和声音信号报警
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测量单位
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μm, mm, cm,
mils, inch
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接口
可升级接口
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USB
-
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USB和蓝牙 4.0
报警输出,脚踏开关触发,RS 232接口
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电源/每次更换电池的工作时间
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3 x AA (LR06) 电池和USB/大约为150小时(不使用背光)
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规范和标准
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DIN EN ISO1461,
2064, 2178, 2360, 2808, 3882;ISO 19840;
ASTM B244,B499, D7091, E376
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显示
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53
x 46 mm,带背光
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操作温度/存储温度
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10
~60°C / –20 ~ 70°C
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尺寸/重量
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53mm x 89mm x
36mm/ 320g(仪器包括电池),橡胶保护套90g
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防护等级
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IP 65
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可选探头
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所有探头都可配合任一主机使用。在选择*适用的探头时需要考虑覆层厚度,基体材料以及基体的形状、厚度、大小、几何尺寸等因素。
探头
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量程
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低端
分辨率
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误差
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*小曲率
半径(凸/凹)
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*小测量
区域直径
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*小基
体厚度
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F05
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0-500μm
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0.1μm
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±(1%+0.7μm)
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0.75/5mm
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3mm
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0.1mm
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F3
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0-3000μm
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0.2μm
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±(1%+1μm)
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1.5/10mm
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5mm
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0.5mm
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F10
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0-10mm
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5μm
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±(1%+10μm)
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5/16mm
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20mm
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1mm
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F20
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0-20mm
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10μm
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±(1%+20μm)
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10/30mm
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40mm
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2mm
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F50
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0-50mm
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10μm
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±(3%+50μm)
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50/200mm
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300mm
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2mm
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N02
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0-200μm
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0.1μm
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±(1%+0.5μm)
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1/5mm
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2mm
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50μm
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N.08Cr
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0-80μm
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0.1μm
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±(1%+1μm)
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2.5mm
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2mm
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100μm
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N10
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0-10mm
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10μm
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±(1%+25μm)
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25/100mm
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50mm
|
50μm
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N20
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0-20mm
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10μm
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±(1%+50μm)
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25/100mm
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70mm
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50μm
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N100
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0-100mm
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100μm
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±(1%+0.3mm)
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100mm/平面
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200mm
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50μm
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FN1.6
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0-1600μm
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0.1μm
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±(1%+1μm)
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1.5/10mm
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5mm
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F:0.5mm/N:50μm
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FN1.6/90
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0-1600μm
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0.1μm
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±(1%+1μm)
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平面/6mm
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5mm
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F:0.5mm/N:50μm
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F2HT
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0-2000μm
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0.2μm
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±(1%+1μm)
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1.5/10mm
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5mm
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0.5mm
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注:
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F型探头:测量钢铁基体上的非磁性覆层
N型探头:测量有色金属基体上的绝缘覆层
FN两用探头:同时具备F型和N性探头的功能
FN1.6/90为直角探头,用于管内测量
N.08Cr用于测量铜上镀铬。
F2HT为高温探头,有两款,允许在高达250°C或350° C表面温度的热表面上进行涂层厚度测量
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